Σχήμα 27 ενιαίων σταθμών συσκευές δοκιμής αντίκτυπου IEC 60884-1

Iec60884-1 σχήμα 27 συσκευές ενιαίων σταθμών για τη δοκιμή αντίκτυπου στη μηχανική απελευθέρωση χαμηλής θερμοκρασίας

Πρότυπα:

Βουλώματα και υποδοχή-έξοδοι IEC 60884-1 “για την οικογένεια και παρόμοιους λόγους – μέρος 1: Πρόταση 24,4 γενικών απαιτήσεων”, πρόταση 30,4, σχήμα 27 και σχήμα 42.

Τυποποιημένη περιγραφή:

Πρόταση 24,4:

Τα δείγματα υποβάλλονται σε μια δοκιμή αντίκτυπου με τη βοήθεια μιας συσκευής όπως φαίνεται στο σχήμα 27.

Η συσκευή, που τοποθετείται σε ένα μαξιλάρι του λάστιχου σφουγγαριών 40 χιλ. παχιού, τοποθετείται μαζί με τα δείγματα σε έναν ψυκτήρα σε μια θερμοκρασία (– 15 ± 2) °C, για τουλάχιστον 16 χ.

Στο τέλος αυτής της περιόδου, κάθε δείγμα, με τη σειρά, τοποθετείται στην κανονική θέση της χρήσης όπως φαίνεται στο σχήμα 27, και ένα βάρος επιτρέπεται για να μειωθεί από ένα ύψος 100 χιλ. Η μάζα του μειωμένου βάρους είναι (1 000 ± 2) γ.

Μετά από τη δοκιμή, το δείγμα δεν θα παρουσιάσει καμία ζημία κατά την έννοια αυτών των προτύπων.

Πρόταση 30,4 δοκιμή αντίκτυπου στη χαμηλή θερμοκρασία:

Τα δείγματα υποβάλλονται σε μια δοκιμή αντίκτυπου με τη βοήθεια των συσκευών όπως φαίνεται στο σχήμα 42. Η μάζα του μειωμένου βάρους είναι (100 ± 1) γ.

Η συσκευή, σε ένα λαστιχένιο μαξιλάρι σφουγγαριών, 40 χιλ. παχύς, τοποθετείται, μαζί με τα δείγματα, σε έναν ψυκτήρα σε μια θερμοκρασία (– 15 ± 2) °C για τουλάχιστον 24 χ.

Στο τέλος αυτής της περιόδου, κάθε δείγμα με τη σειρά, τοποθετείται σε θέση, όπως φαίνεται στο σχήμα 42, και το μειωμένο βάρος επιτρέπεται για να μειωθεί από ένα ύψος 100 χιλ. Τέσσερις επιδράσεις εφαρμόζονται διαδοχικά στο ίδιο δείγμα, που περιστρέφεται το μέσω 90° μεταξύ των επιδράσεων.

Μετά από τη δοκιμή τα δείγματα επιτρέπονται για να επιτύχουν περίπου τη θερμοκρασία δωματίου και εξετάζονται έπειτα.

Καμία ρωγμή των μονώνοντας μανικιών δεν θα είναι ορατή με το κανονικό ή διορθωμένο όραμα χωρίς πρόσθετη ενίσχυση.

Εφαρμογή:

Αυτή η συσκευή είναι χρήση για τον έλεγχο της αντίστασης αντίκτυπου στη χαμηλή θερμοκρασία των ηλεκτρικών εξαρτημάτων, καθώς επίσης και καλώδια και καλώδια.

Δείγμα δοκιμής: 

Ηλεκτρικά εξαρτήματα, να τοποθετήσει τύπων επιφάνειας παράθυρα, αδένες βιδών, καλύψεις, καλώδια και καλώδια κ.λπ.

Χαρακτηριστικό γνώρισμα:

Αυτή η συσκευή πρέπει να χρησιμοποιηθεί με την αίθουσα χαμηλής θερμοκρασίας, η συσκευή πρέπει να τοποθετηθεί στο λαστιχένιο μαξιλάρι σφουγγαριών περίπου 40mm παχιών, και πρέπει να τεθεί στην αίθουσα χαμηλής θερμοκρασίας πριν από και κατά τη διάρκεια τη δοκιμή.

Παράμετροι:

Μέθοδος δοκιμής:

1. Πριν από την πρώτη χρήση, ο χρήστης πρέπει να εξοικειωθεί με τα σχετικά πρότυπα για αποτελεσματικότερος και κατάλληλος χρησιμοποιώντας τις συσκευές δοκιμής και ολοκληρώνοντας τη δοκιμή.

2. Το δείγμα τοποθετείται κάτω από το ενδιάμεσο κομμάτι χάλυβα, το βάρος είναι γάντζος από την κρεμάστρα, ρυθμίζει τη θέση του γάντζου, στο τέλος αυτής της περιόδου, κάθε δείγμα, με τη σειρά, τοποθετείται στην κανονική θέση της χρήσης όπως φαίνεται στο σχήμα 27, και ένα βάρος επιτρέπεται για να μειωθεί από ένα ύψος 100 χιλ. Η μάζα του μειωμένου βάρους είναι (1000±2) γ.

3. Η συσκευή, που τοποθετείται σε ένα μαξιλάρι του λάστιχου σφουγγαριών 40 χιλ. παχιού, τοποθετείται μαζί με τα δείγματα σε έναν ψυκτήρα σε μια θερμοκρασία (- 15±2) ℃, για τουλάχιστον 16h.

4. Όταν εκείνος ο χρόνος είναι επάνω, πιέστε τη λαβή απελευθέρωσης στη συσκευή, το βάρος είναι ελεύθερη πτώση στο δείγμα, μετά από τη δοκιμή, το δείγμα δεν θα παρουσιάσει καμία ζημία κατά την έννοια αυτών των προτύπων.

5. Καθαρίστε και διατηρήστε τον εξοπλισμό αφότου ολοκληρώνεται η δοκιμή.